三綜合環(huán)境試驗箱的檢測標(biāo)準(zhǔn)介紹

　　三綜合環(huán)境試驗箱主要用于滿足GJB899國家標(biāo)準(zhǔn)可靠性鑒定和驗收試驗、可靠性增長試驗、可靠性摸底試驗等要求。該方法的目標(biāo)是通過試驗得出平均操作時間“MTBF”值；適用于GJB1032電工電子產(chǎn)品的環(huán)境應(yīng)力篩選和民用電子產(chǎn)品的溫度振動環(huán)境試驗。

　　1、GB/T2423.25-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗

　　2、GB/T2423.26-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗

　　3、GB/T2423.27-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗

　　4、GB/T2423.35-2005Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗

　　5、GB/T2423.35-2019環(huán)境試驗第2部分：試驗和導(dǎo)則氣候(溫度、濕度)和動力學(xué)(振動、沖擊)綜合試驗

　　6、GB/T2423.36-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/BFe,散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗

　　7、GB/T2424.15-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第3部分：溫度/低氣壓綜合試驗導(dǎo)則

　　8、GB/T2424.22-1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度(低溫、高溫)和振動(正弦)綜合試驗導(dǎo)則

　　9、GB/T5170.19-2018環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法第19部分：溫度、振動(正弦)綜合試驗設(shè)備

　　10、GB/T12085.5-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗

　　三綜合環(huán)境試驗箱可按用戶要求設(shè)計生產(chǎn)，完成溫濕度振動綜合試驗，根據(jù)試驗空間的形狀、性質(zhì)、質(zhì)量、散熱等優(yōu)化試驗空間，同時考慮到振動臺的尺寸，盡量節(jié)省實驗空間，為客戶提供安全、穩(wěn)定、高性能的實驗設(shè)備。

更新更新時間：2022-09-28

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